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FeritScope FMP30鐵素體含量測試儀影響因素 試樣形狀的影響可以通過將測得的鐵素體含量乘以各自的阻礙因子來加以糾正。 通常，只有當(dāng)試樣的凸曲率的曲率直徑小于50mm，或者試樣的凹曲率的曲率直徑小于80mm，或者試樣的厚度為2mm或包層厚度時，這些影響的校正是必要的 小于2mm，或距離該測量點的距離小于2mm。 對于非常低的鐵酸鹽含量，特別是應(yīng)該根據(jù)測量應(yīng)用確定厚度的影響。

605-360 DUALSCOPE®MP0涂層測厚儀貨源充足 手持涂層厚度測量儀帶有兩個大型，易于閱讀的背光顯示屏。 集成探頭采用磁感應(yīng)法測量非鐵磁性涂層，如油漆和搪瓷，應(yīng)用于鋼鐵或鐵等有色金屬基體，以及使用渦流的鋁，不銹鋼，銅或黃銅等有色金屬基體上的非導(dǎo)電涂層。 當(dāng)前方法。 測量范圍0 - 80 mils（0 - 2500μm）。 符合ASTM D7091，B499，DIN EN ISO 21

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DUALSCOPE FMP20涂鍍層測厚儀享譽的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問世了，可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度。

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庫倫法Couloscope CMS2測厚儀功能強大 COULOSCOPE CMS2 測試儀器是一個功能非常強大而操作比較簡便的儀器。

膜厚儀DualScope FMP150原產(chǎn)進(jìn)口 DualScope FMP150配有彩色可觸摸屏的，可無損測量幾乎所有金屬上涂層的型手持式儀器，Windows CE 操作系統(tǒng)，帶有圖形化操作界面以及用戶自定義的文件和文件夾結(jié)構(gòu)大容量內(nèi)存，可存儲數(shù)千個有不同校準(zhǔn)的應(yīng)用程式

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菲希爾X射線測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾XUL220，F(xiàn)ISCHER XULM240。菲希爾FISCHER X射線測厚儀

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兩用測厚儀DualScope FMP20 雙功能FMP20 該通用型號為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導(dǎo)電載體材料等眾多涂層。

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